| Número de pieza | SN74ABTH18652APM | Fabricante | N/A |
|---|---|---|---|
| Descripción | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | Estado Libre de plomo / Estado RoHS | Sin plomo / Cumple con RoHS |
| cantidad disponible | 7641 pcs stock | Ficha de datos | |
| Tensión de alimentación | 4.5 V ~ 5.5 V | Paquete del dispositivo | 64-LQFP (10x10) |
| Serie | 74ABTH | embalaje | Tray |
| Paquete / Cubierta | 64-LQFP | Otros nombres | 296-4137 SN74ABTH18652APMG4 SN74ABTH18652APMG4-ND |
| Temperatura de funcionamiento | -40°C ~ 85°C | Número de bits | 18 |
| Tipo de montaje | Surface Mount | Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) | 3 (168 Hours) |
| Tiempo de entrega estándar del fabricante | 6 Weeks | Tipo de lógica | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
| Estado sin plomo / Estado RoHS | Lead free / RoHS Compliant | Descripción detallada | Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10) |
| Número de pieza base | 74ABTH18652 | ||
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